Marka: NANBEI
Model: AFM;
Mikroskop sił atomowych (AFM), instrument analityczny, który można wykorzystać do badania struktury powierzchni materiałów stałych, w tym izolatorów.Bada strukturę powierzchni i właściwości substancji, wykrywając wyjątkowo słabe interakcje międzyatomowe między powierzchnią badanej próbki a elementem wrażliwym na mikrosiły.