mikroskop sił atomowych afm
Mikroskop sił atomowych (AFM), instrument analityczny, który można wykorzystać do badania struktury powierzchni materiałów stałych, w tym izolatorów.Bada strukturę powierzchni i właściwości substancji, wykrywając wyjątkowo słabe interakcje międzyatomowe między powierzchnią badanej próbki a elementem wrażliwym na mikrosiły.Będzie parą skrajnie czułego końca mikrowspornika o słabej sile zamocowanego, drugi koniec małej końcówki blisko próbki, wtedy będzie z nią oddziaływać, siła spowoduje odkształcenie mikrowspornika lub zmianę stanu ruchu.Podczas skanowania próbki czujnik może być użyty do wykrycia tych zmian, możemy uzyskać rozkład informacji o sile, aby uzyskać informacje o morfologii powierzchni w nano-rozdzielczości i informacje o chropowatości powierzchni.
★ Zintegrowana sonda skanująca i próbnik próbki wzmocniły zdolność przeciwdziałania zakłóceniom.
★ Precyzyjne urządzenie do pozycjonowania lasera i sondy sprawia, że wymiana sondy i regulacja miejsca są proste i wygodne.
★ Stosując zbliżanie się sondy próbki, igła może być prostopadła do skanowania próbki.
★ Automatyczne zbliżanie sondy próbki do sterowania silnikiem impulsowym w pionie, w celu uzyskania precyzyjnego pozycjonowania obszaru skanowania.
★ Przykładowy obszar skanowania będący przedmiotem zainteresowania można swobodnie przesuwać za pomocą projektu urządzenia mobilnego o wysokiej precyzji.
★ System obserwacji CCD z optycznym pozycjonowaniem zapewnia obserwację w czasie rzeczywistym i pozycjonowanie obszaru skanowania próbki sondy.
★ Konstrukcja elektronicznego systemu sterowania modularyzacją ułatwiła konserwację i ciągłe doskonalenie obwodu.
★ Integracja wielu obwodów sterowania trybem skanowania, współpracuje z systemem oprogramowania.
★ Zawieszenie sprężynowe, które jest prostą i praktyczną zwiększoną zdolnością przeciwzakłóceniową.
| Tryb pracy | FM-Tapping, opcjonalny kontakt, tarcie, faza, magnetyczna lub elektrostatyczna |
| Rozmiar | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Zakres skanowania | 20 mm w kierunku XY,2 mm w kierunku Z. |
| Rozdzielczość skanowania | 0,2nm w kierunku XY,0,05 nm w kierunku Z |
| Zakres ruchu próbki | ± 6,5 mm |
| Zbliża się szerokość impulsu silnika | 10±2ms |
| Punkt próbkowania obrazu | 256×256,512×512 |
| Powiększenie optyczne | 4X |
| Rozdzielczość optyczna | 2,5 mm |
| Częstotliwość skanowania | 0,6Hz~4,34Hz |
| Kąt skanowania | 0°~360° |
| Kontrola skanowania | 18-bitowy przetwornik cyfrowo-analogowy w kierunku XY,16-bitowy D/A w kierunku Z |
| Próbkowanie danych | 14-bitowyA / D,podwójne 16-bitowe wielokanałowe próbkowanie synchroniczne A/D |
| Sprzężenie zwrotne | Cyfrowe sprzężenie zwrotne DSP |
| Częstotliwość próbkowania informacji zwrotnych | 64,0 KHz |
| Interfejs komputerowy | USB2.0 |
| Środowisko działania | Windows98/2000/XP/7/8 |